本發明涉及一種用于晶體材料(包括單晶材料和多晶材料)或含有原子沿一維空間排列有序的材料(如纖維增強的復合材料)工件內部缺陷的X射線衍射掃描無損檢測方法和裝置,尤其是適用于較低原子序數原子構成的材料工件內部缺陷的檢測。它通過無損檢測得到的被測工件內部各部位物質的衍射強度分布圖,無損檢測分析被測工件內部缺陷、缺陷類型及其分布。采用容易獲得的可工業化實用的重金屬陽極靶的X射線管輻射,也能快捷、無損檢測厚度達數拾毫米厚的鋁、鎂工件內部缺陷及其缺陷類型,且空間分辨率優于現有的X射線探傷機、X射線CT。
聲明:
“工件內部缺陷的X射線衍射掃描無損檢測方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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