本申請實施例提供一種無損檢測的方法、系統、裝置、設備及介質,該方法包括:獲取多個介電參數,其中,所述多個介電參數是通過對被檢測材料進行檢測獲得的;根據所述多個介電參數,獲得所述被檢測材料的目標檢測頻率;使用所述目標檢測頻率對所述被檢測材料進行無損檢測,獲得檢測結果。通過本申請實施例中的方法能夠通過介電參數獲得目標檢測頻率,進而使用目標檢測頻率對介電材料進行無損檢測,提高檢測質量。
聲明:
“無損檢測的方法、系統、裝置、設備及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)