本發明適用于探傷設備技術領域,尤其涉及一種基于X射線的全角度無損檢測裝置,包括機架,所述全角度無損檢測裝置還包括:透射機構,所述透射機構與機架固定連接,用于通過射線對待測零件同一檢測點進行多角度成像;載物機構,所述載物機構設置在透射機構射線發射路徑上并與機架固定連接,用于夾持待測零件并調整零件空間位置及旋轉零件;保護機構,所述保護機構包覆設置在機架外圍,用于屏蔽透射機構產生的射線。本發明實施例提供的一種基于X射線的全角度無損檢測裝置,通過載物機構根據透射機構產生射線的方向調整零件空間位置及空間姿態,實現對零件檢測點的多角度透射檢測,提高了零件探傷的準確性。
聲明:
“基于X射線的全角度無損檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)