本發明提供一種基于測量趨膚效應作用下樣品電阻變化的無損檢測方法,采用一定頻率、一定強度的交流電作用于待測材料,在趨膚效應作用下,在裂紋等缺陷集中的導體材料表面的電流密度會強制加大,凸顯了表面缺陷對樣品電阻的影響。實驗結果表明完好材料(即無損樣品)與疲勞后的材料(即有損樣品)在高頻時電阻變化比低頻時明顯得多。因而檢測高頻時的有損樣品的電阻或對應電壓,并與無損樣品比較,可以高靈敏度的檢測樣品表面缺陷。該方法可以從整體全局上檢測樣品的疲勞程度,不需要逐點逐區檢測,節約了時間和成本;由于趨膚效應,高頻時對材料出現的表面缺陷更敏感,通過改變激發頻率還可以獲取有損樣品表面缺陷深度信息。
聲明:
“基于趨膚效應電阻的無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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