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X或γ輻射成像檢測方法與裝置

763   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:57:41
本發明涉及一種X或γ輻射成像檢測方法與裝置,屬于核技術應用領域,包括射線源、前準直器、拖動機構,其特征在于:在射線源與被檢客體間設置有帶格柵形準直器的背散射陣列探測裝置及其信號采集與處理系統,該背散射陣列探測裝置的各探測器元分別探測來自客體上射線作用區內不同部位的背散射。還包括在被檢客體的后面設置透射陣列探測裝置及其信號采集與處理系統,以及置于該透射陣列探測裝置前的后準直器。本發明可使其中有機物或其它富含氫元素物質的影像能自動加亮,進一步結合透射輻射成像技術,更有利于獲取被檢客體的全面信息。
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