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克服XRF粉末壓片法測定合金元素粒度效應的方法

896   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-18 01:00:02
本發明涉及一種克服XRF粉末壓片法測定合金元素粒度效應的方法,制備粒度組成相似的標準樣品及待分析樣品,標準樣品及待分析樣品分別粗破、細破、研磨、篩分分級、配制后壓制樣片。采用x射線熒光光譜儀粉末法進行分析。本發明通過重新分配樣品中不同粒度的組成,使標準樣品及待分析樣品的粒度組成達到高度相似,消除由于粒度效應帶來的分析線強度的波動給檢測結果帶來的誤差,解決了合金x射線熒光光譜分析粉末壓片法測定合金元素的粒度效應和礦物效應。
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“克服XRF粉末壓片法測定合金元素粒度效應的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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