本發明公開了一種采用導電納米線的電學和導電原子力顯微鏡探針及其制備方法,解決了目前電學和導電原子力顯微鏡探針的瓶頸問題,大大提高了原子力顯微鏡探針的壽命和分辨率。導電納米線探針可以采用直接粘接法和化學氣相沉積生長法制備。充分利用了導電一維納米材料探針的超高分辨率和超長使用壽命,解決了電學和導電原子力顯微鏡探針測試長期以來的壽命短,易磨損等問題,提高了測試的一致性,滿足了科研、生產和教學等不同應用領域的需求。
聲明:
“采用導電納米線的電學原子力顯微鏡探針” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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