合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 化學分析技術

> SiO2薄膜紅外特征吸收峰分峰數量確定方法

SiO2薄膜紅外特征吸收峰分峰數量確定方法

1151   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:23:05
本發明屬于光學薄膜低折射技術領域,具體涉及一種SiO2薄膜紅外特征吸收峰數量確定方法。本發明涉及光學薄膜在紅外特征吸收峰疊加情況,對疊加吸收峰數量的精確分解方法,具體提出一種對薄膜材料紅外特征吸收光譜吸收峰數量的確定方法,其將不同的吸收峰等效為化學物質的成分,利用紅外光譜測量技術確定化學物質成分組成的原理,對薄膜樣品進行處理后進行吸收峰數量的確定。本發明優點是在于可以準確確定薄膜的吸收峰數量,特別是對于相近吸收峰疊加的情況效果最為明顯。由此,本發明提出通對吸收峰的分解方法,實現能夠精確確定吸收峰的疊加數量,為材料介電常數的反演計算奠定技術基礎。
登錄解鎖全文
聲明:
“SiO2薄膜紅外特征吸收峰分峰數量確定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
化學分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX