本發明公開了一種基于等離子體原理的質譜源內解離方法和裝置,所述方法是將離子化或未離子化的樣品與等離子體持續接觸1~3分鐘,使樣品發生解離。本發明提供的方法和裝置,可以利用等離子體使化合物發生解離,可以同時得到電荷、自由基以及等離子體化學誘導的碎片離子,所得質譜圖碎片離子種類繁多,信息豐富,能全面地反映樣品中化合物的結構信息,可實現化合物的定性分析,甚至還可以實現兩個同分異構體的定性鑒定;此外,本發明所述裝置無需真空環境,在常壓條件下就能使用,結構簡單,操作簡便,成本低廉,易于實現,可以方便地與常見的大氣壓離子化技術和質譜儀聯用,可有效彌補大氣壓離子化技術用于定性分析的缺陷。
聲明:
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