本發明公開了一種基于陣列線激光的SICM掃描系統及方法,陣列線激光發射源和CCD感光相機分別設置于電化學池的兩側,陣列線激光發射源生成的激光束從電化學池穿過打到CCD感光相機上,能快速調整電化學池內待測掃描樣的高度,利用激光束確定玻璃探針管的高度,能快速地確定掃描離子電導顯微鏡在跳躍掃描模式下的最高點跳躍位置,很大程度上提高樣本掃描的效率,減小掃描的時間成本;通過圖像處理單元對陣列線激光的成像進行處理和分析后,將結反饋接硬件系統控制器,得到樣本的最高點位置,這一閉環反饋系統很大程度上優化了傳統樣本掃描的過程,不僅在樣本掃描上節約率時間成本,而且在生命科學領域,對細胞藥理反應形貌變化的捕捉上有很大作用和意義。
聲明:
“基于陣列線激光的SICM掃描系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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