本發明提供了分析顆粒的表面性質的方法和裝置。分析顆粒的表面性質的方法包括使第一個顆粒與對第一種化學物類具有特異性結合親和性的第一個捕獲區相結合,對第一個顆粒施加光學力,感應第一個顆粒對光學力的響應,以及使用感應到的響應來確定第一個顆粒表面上第一種化學物類的存在、不存在或量。該過程可以并行地重復,以測試多個顆粒。除了直接測試顆粒的表面性質之外,本方法可用于直接、間接和競爭性分析,以確定游離的或固定化的分析物的存在、不存在或數量。提供了帶有具有親合力的捕獲區的流體盒,它們被調整以使用光學力。還提供了執行該方法的軟件程序。
聲明:
“通過光學操作與功能化表面有關的顆粒進行表面作圖” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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