本發明公開了一種基于高光譜的米粒品質功能基因解析方法,包括:使用高光譜成像系統采集米粒圖像并進行圖像處理,獲取光譜指數;使用化學方法人工測定米粒的蛋白質含量和直鏈淀粉含量,作為人工測量值;光譜指數與人工測量值相關性分析與建模;光譜指數作為基于圖像信息的表型性狀進行全基因組關聯分析,獲取相關的候選基因;候選基因的功能驗證。米粒品質的傳統人工檢測為有損測量,該方法基于高光譜獲取米粒表型數據信息,結合光譜與圖像處理技術可實現米粒品質相關指標的無損檢測,提高檢測精度,同時提高GWAS分析結果的準確度。此外,該方法結合遺傳轉化對候選基因進行功能驗證,使驗證結果更具有說服力,可為水稻品質育種提供新材料。
聲明:
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