本發明屬于分子檢測領域,具體涉及一種基于固態納米孔技術的多糖單分子結構解析方法。本發明提出了一種利用化學修飾過的納米孔對多糖分子進行檢測的方法,創造性地將固態納米孔單分子檢測技術應用于多糖分子的檢測之中,依照多糖分子通過納米孔時與孔內修飾物相互作用產生的特征電流信號,建立一套高靈敏度、高特異性的多糖分子檢測體系。同時對比不同修飾物以及不同多糖樣品檢測的數據,以分析找出更優化的化學修飾物從而對比不同多糖分子間的結構差異。本發明提供了一種化學修飾的固態納米孔用來檢測多糖,具體為:采用多級電流脈沖擊穿法制備固態納米孔,并對固態納米孔進行硅烷化修飾和精氨酸修飾;并驗證了多糖過孔時的信號變化。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)