本發明涉及一種用于制造微測輻射熱計(1)的方法,該方法包括以下步驟:?生產包含熱敏電阻材料(14)的膜(10),該熱敏電阻材料由基于氧化釩的第一化合物所制成,并且由覆蓋中間絕緣層(13)的中央部段(14.1)以及由穿過孔(13a)與極化電極(12)相接觸的側向部段(14.2)來形成;?通過離子注入在側向部段(14.2)中局部地摻雜大于或等于有效量的量(y)的附加化學元素(A),由此改性的化合物在室溫下的電阻率ρL小于或等于所述第一化合物在室溫下的電阻率ρc的10%。
聲明:
“利用由性能改進的氧化釩所制成的熱敏材料來制造微測輻射熱計的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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