本申請公開了一種超導薄膜的參數測量裝置。該參數測量裝置包括:腔室,腔室的底部用于對超導薄膜提供機械支撐;互感線圈,用于向超導薄膜提供磁場并采集表征超導薄膜的磁穿透深度的測量信號;以及位于腔室內的第一電極和第二電極,第二電極用于與超導薄膜電連接,其中,在磁性測量模式下,腔室內填充有離子液體,離子液體至少覆蓋第一電極和超導薄膜,從而參數測量裝置通過調整第一電極和第二電極之間的柵壓控制離子液體,以調整超導薄膜的化學組分。該參數測量裝置可以提高超導薄膜參數測量的效率和準確性。
聲明:
“超導薄膜的參數測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)