本發明屬于顯微成像及光譜測量技術領域,涉及一種激光差動共焦布里淵-拉曼光譜測量方法及裝置,可用于樣品的微區形態參數綜合測試與高分辨成像。該方法與裝置在光譜探測中融入差動共焦技術,利用差動共焦技術進行樣品位置探測,利用光譜探測系統進行光譜探測,利用傳統共焦拉曼光譜探測技術遺棄的布里淵散射光對材料的彈性和壓電等性質進行測試,從而實現樣品微區高空間分形態參數測量。本發明具有定位準確,高空間分辨,光譜探測靈敏度高和測量聚焦光斑尺寸可控等優點,在生物醫學、法庭取證、微納制造、材料工程、工程物理、精密計量、物理化學等領域有廣泛的應用前景。
聲明:
“激光差動共焦布里淵-拉曼光譜測量方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)