本發明涉及一種同時測量HF轉動溫度和振動能級粒子數分布的方法,它基于自發輻射熒光光譜技術,是一種利用直線作圖法同時測量HF分子轉動溫度和振動能級粒子數分布的新方法。本發明主要應用于HF化學激光測試診斷技術領域,可以同時測量轉動溫度和振動粒子數分布,只需要將HF基頻自發輻射熒光光譜各個振轉譜帶的P支譜線強度進行簡單的處理之后作圖即可,具有簡單方便、直觀準確、非侵入性等特點。利用本發明,可以實現HF化學激光器中轉動溫度和振動激發態各個能級粒子數分布的同時快速測量。
聲明:
“同時測量HF轉動溫度和振動能級粒子數分布的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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