本發明提供一種碲鋅鎘探測器與碲鋅鎘探測器的柵極鈍化方法,所述碲鋅鎘探測器的柵極鈍化方法包括:對制備有陽極的碲鋅鎘晶片的上表面進行光刻處理,在陽極的表面覆蓋第一厚度的光刻膠層,將柵極露出;對碲鋅鎘晶片的上表面進行化學拋光處理,去除柵極的表面的富碲層,基于化學拋光的反應產物在柵極的表面形成高阻鈍化層,并使得陽極的表面保留第二厚度的光刻膠層;其中,第一厚度大于或等于第二厚度,第二厚度大于零。本發明處理工藝簡單,能夠在保護陽極的前提下實現對柵極的鈍化處理,可有效降低碲鋅鎘探測器的漏電流,實現在較高的偏壓下對碲鋅鎘探測器進行能譜測試,確保碲鋅鎘探測器達到較高的能譜分辨率。
聲明:
“碲鋅鎘探測器與碲鋅鎘探測器的柵極鈍化方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)