本實用新型公開了一種測試光電性能的自動化裝置,涉及一種借助于測定材料的化學或物理性質來用電、電化學或磁的方法測試或分析材料的裝置,尤其涉及一種自動化測試半導體光電性能的裝置。所述裝置包括光源,電化學反應池,電化學工作站和電腦,其中電化學工作站的工作電極、對電極以及參考電極均置于電化學反應池中,并且電化學工作站還與電腦連接,所述的光源與電化學反應池之間還設有自動遮光板裝置,所述的自動遮光板裝置包括底座,設置在底座上的機械臂,與機械臂相連的遮光板以及控制機械臂工作的arduino開發板。本實用新型實現了半導體材料光電性能測試實驗的自動化與智能化,所獲取的實驗數據也更加準確。
聲明:
“測試光電性能的自動化裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)