本發明涉及鍍錫板的表征檢測領域,尤其涉及一種鍍錫板鈍化膜厚度的測量方法。本發明包括步驟:(1)試樣的預處理:(2)確定鈍化膜的表面位置:原位氬離子刻蝕和X射線光電子能譜測量交替進行,分析試樣刻蝕在鍍錫板某深度處的化學組成及含量,當測量到Cr元素、O元素后確定鈍化膜的表面位置;(3)刻蝕鈍化膜:檢測到鈍化膜的表面位置后對試樣繼續刻蝕,直至鈍化膜已完全刻蝕完,記錄刻蝕時間(t);(4)計算鈍化膜厚度:已知標準靶材的刻蝕速度,根據刻蝕速度與靶材的密度成反比,獲得鈍化膜的刻蝕速度;鈍化膜厚度=刻蝕速度×刻蝕時間。本發明能夠快速、準確地測量鍍錫板鈍化膜厚度。
聲明:
“鍍錫板鈍化膜厚度的測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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