本發明涉及一種直接對RNA的序列及其化學修飾同時進行測定的技術。和DNA相比,對RNA上化學修飾的研究相對滯后,其主要原因在于沒有一種方便精準的方法檢測這些化學修飾。本發明針對現行間接RNA測序技術的種種問題,直接對RNA進行序列測定。先將RNA降解成長短不一的梯坎RNA片段,再用毛細管電泳和質譜聯用分析檢測這些降解的RNAs。每一個降解的梯坎RNA片段都對應著不同的遷移時間和不同的質譜值。把這些長短不一的梯坎RNA片段從小到大排序,再用這些梯坎RNA片段之間質譜差值來計算原RNA從5`和3`的堿基序列。本技術不僅可以直接對常規的RNA測序,而且可以同時測定這些RNA上的化學修飾。
聲明:
“毛細管電泳和質譜聯用的直接RNA測序技術” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)