本發明提供了一種基于量子點?納米通道的銅離子檢測方法,包括步驟:制備CdSe@ZIF?8/PAA膜;利用所述CdSe@ZIF?8/PAA膜制成與倒置熒光顯微鏡適配的芯片,所述芯片包括儲液池,所述CdSe@ZIF?8/PAA膜位于所述儲液池內,其中,所述儲液池內還置有工作電極,所述工作電極與電化學工作站電連;在所述儲液池中加入電解質溶液和Cu2+溶液,所述電化學工作站施加電位實現Cu2+富集,通過所述倒置熒光顯微鏡對所述儲液池進行熒光光譜掃描,并獲取光譜信號,實現對Cu2+的檢測。本發明提供的檢測方法,便于操作且成本低,且既能檢測到痕量的銅離子,也能使檢測過程可視化。
聲明:
“基于量子點-納米通道的銅離子檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)