一種用于探測樣本中的化學發光的成像系統采用了高度合并的、短曝光時間最初圖像來計算所述樣本的最終圖像的曝光時間。計算曝光時間以后,至少獲取兩個最終圖像,將第一圖像中飽和的像素移除并且用第二圖像中相應的未飽和的像素來替代。相應的像素被調整為反映所述第一和第二圖像之間的不同的強度級,并且所述第一圖像變為反映所探測的化學發光的最終圖像。
聲明:
“用于化學發光樣本的圖像獲取” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)