本發明公開了基于掃描探針技術與電化學發光聯用的超分辨補償方法,對SECM?ECL圖像矩陣根據各電位進行整理,添加時間維度,組成SECM?ECL三維數組,對該數組中感興趣區域進行整理,取交集以獲取最大感興趣區域,以區分整體感興趣區域與整體非感興趣區域,采用插值算法對各感興趣區域進行預先放大以提高邊緣,并保證所有輸入圖像具有相同輸入尺寸,將處理后的SECM?ECL輸出組作為深度學習網絡輸入。該基于掃描探針技術與電化學發光聯用的超分辨補償方法,通過感興趣區域非感興趣區域實現基于時間及通道的互相細節增強,通過超分辨對整體檢測數據基于樣本的超分辨具有足夠好的時間、空間分辨率與信噪比。
聲明:
“基于掃描探針技術與電化學發光聯用的超分辨補償方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)