本發明公開了一種錐形微米孔表面電荷密度調控電致化學發光檢測的方法。該方法以微米孔為分析元件,以Ru(phen)32+/TPrA研究模型,研究錐形微米孔表面電荷密度調控體系電流大小進而調控Ru(phen)32+/TPrA氧化反應的法拉第電流傳遞效率,產生不同的電致化學發光信號。首次實現錐形微米孔表面電荷密度調控電致化學發光信號,該實驗裝置結構簡單,成本低廉,使用方便,拓寬了電致化學發光的應用范圍,具有廣闊的應用前景。
聲明:
“錐形微米孔表面電荷密度調控電致化學發光信號的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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