本發明涉及X射線應用技術領域,用于化學價態研究的X射線吸收譜探測器及其方法。探測器由樣品支架,樣品S1,樣品S2,X射線光電二極管,濾波片,狹縫,大面積X射線光電二極管組成。其中樣品支架,與樣品S1、X射線光電二極管組成透射探測器部分;樣品支架又與樣品S2,濾波片,狹縫,大面積X射線光電二極管組成熒光探測器部分。它們共同利用同一個透射式電離室作為前電離室。兩探測器部分組成一體,相互呈一定角度。方法是:兩個探測器并列設置,分別用于待測樣品及標準比較樣品,每個探測器接收一部分同步輻射束線,當單色器進行光子能量掃描時,兩探測器同時采譜,則兩樣品的譜在能量標定上完全一制。
聲明:
“用于化學價態研究的X射線吸收譜探測器及其方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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