本申請涉及化學電離質譜技術領域,公開了一種測量化學電離反應時間的方法、系統、裝置及存儲介質,通過在化學電離源上施加脈沖電壓信號,產生主離子,獲取所述主離子的質譜TTL反饋信號,再獲取信號隨時間變化的序列圖,所述信號包括所述脈沖電壓信號及所述質譜TTL反饋信號,最后,根據所述序列圖中的所述質譜TTL反饋信號的半高處對應的時間與所述脈沖電壓信號起始對應的時間,計算得到化學電離反應時間。本發明根據脈沖電壓信號與質譜TTL反饋信號的譜圖之間的特征確定化學電離反應時間,可以提高化學電離反應時間測量的準確性,且方法簡單易行。
聲明:
“測量化學電離反應時間的方法、系統、裝置及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)