本發明公開了一種多維度的電化學信息與多光譜信息結合測量方法,其中,所述測量方法包括:獲取被測物的表面形貌信息;根據所述表面形貌信息,確定所述電極陣列在被測物內部的探測面,其中,所述探測面與所述被測物的表面的距離為預設的深度值;根據在預設的深度值下的所述電極陣列,確定所述被測物的電化學信息;同時通過預設深度值測量多光譜信息;本發明提供一種在不同溫度條件下,可精確控制探測深度的電化學和多光譜信息測量方法。
聲明:
“多維度的電化學信息與多光譜信息結合測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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