本發明涉及光化學及電化學領域,一種結合電化學的光譜測量方法,用于光譜測量裝置包括高壓直流電源、充電電阻、充電線、火花開關、電容、功率分配器、衰減器、傳輸線I、示波器、傳輸線II、支架、樣品腔、光學測試儀、溫度計、半導體制冷器、導熱臺和恒電位器,采用特制的樣品及新穎高壓脈沖施加方法,能夠對樣品進行高電壓處理后,同時研究樣品的電化學特性及光譜特性,施加到樣品上的高壓脈沖較為穩定,光譜測量時的光散射較低,光譜的信噪比高;樣品腔平衡了電化學實驗及光譜實驗的需求,具有光反射功能的電極使得光的擴散路徑長度較小,并保持了較低的光散射,高壓脈沖生成方法較為簡單,產生的高壓脈沖無毛刺且抖動小。
聲明:
“結合電化學的光譜測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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