本實用新型公開了一種X射線熒光元素分布分析用分析盒,屬于X射線分析領域,包括:外殼,其用于盛放圓形分析片和待測樣品;圓形分析片,所述的圓形分析片的厚度大于圓形分析片對待測元素最短特征X射線吸收99.9%的厚度,數量為N;所述的圓形分析片上設置有一個通光孔,所述通光孔的直徑為d;第i個圓形分析片上通光孔的圓心與距離圓形分析片圓心的距離Li與樣品二維分布分析要求的最小點直徑d0之間符合如下關系:Li=(i?1)d0。本實用新型的X射線熒光元素分布分析用分析盒可以分析樣品表面化學成分的二維分布。
聲明:
“X射線熒光元素分布分析用分析盒” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)