本發明公開了單個納米粒子的電化學阻抗譜測定裝置及方法,所述裝置包括:單色激光調節模塊,用于將單色激光引入暗場成像中并調節所述單波長的范圍;粒子激發模塊,與所述單色激光調節模塊連接,用于激發具有局域等離子共振的貴金屬的單個納米粒子的散射共振,包括平凸透鏡和電化學池;電壓施加模塊,與所述粒子激發模塊連接,用于給所述電化學池施加周期性調制電壓;粒子散射強度檢測模塊,與所述電壓施加模塊和粒子激發模塊相連接,包括鎖相放大器和光電倍增管;本發明將單色激光引入暗場成像中,在檢測器方面將光電倍增管配備鎖相放大器,這使得可以在電壓調制下通過直接檢測單個納米粒子的散射強度值變化,獲得單個納米粒子的電化學阻抗譜。
聲明:
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