本發明公開了一種X-射線熒光光譜法測定熔敷金屬化學成分的方法,包括以下步驟:1)繪制工作曲線;2)熔敷金屬試樣的制備;3)熔敷金屬試樣中元素含量的測定。本發明具有分析速度快、操作簡單、測量數據準確度高的特點,該方法的應用拓寬了熒光分析的應用范圍,同時可以避免由于傳統化學分析產生的廢棄物的排放,減少環境污染,達到了節能減排的目的,具有明顯的社會效益。
聲明:
“測定熔敷金屬化學成分的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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