本發明公開了一種用X熒光光譜法測定蛇紋石中二氧化硅、氧化鎂、三氧化二鋁含量的方法。與現有的檢測技術相比較,本發明采用X射線熒光光譜法,克服了原有濕法化學分析方法操作復雜,分析時間長、使用試劑量大,易對環境造成污染等缺陷,實現了多元素同時測定,試劑用量少,操作安全環保的技術突破,具有分析速度快,樣品熔融玻璃片保留時間長,分析精密度、準確度高,適合鋼鐵企業生產過程中現場快速分析的需求。
聲明:
“X射線熒光光譜法測定蛇紋石化學成分的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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