本發明公開一種瞬態光電化學顯微鏡,屬于電化學的顯微成像系統技術領域,包括數字工作站系統、電化學檢測系統、暗場顯微鏡系統、成像系統和延遲發生器系統,數字工作站系統與電化學檢測系統相連,延遲發生器系統與成像系統、暗場顯微系統和數字工作站系統分別相連。本發明還公開了瞬態電化學過程測量方法。本發明使用雙通道數字發生器控制的電化學工作站對Au納米電極施加脈沖電壓,然后利用電化學檢測系統采集Au納米電極的電流信號,通過延遲發生器系統產生的延遲觸發信號來控制暗場顯微系統、成像系統采集Au納米電極在雙電層形成過程中不同時刻的散射圖像,最終利用電學和光學兩種檢測技術獲得Au納米電極上如雙電層形成的瞬態電化學過程。
聲明:
“瞬態光電化學顯微鏡及瞬態電化學過程測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)