本發明公開了一種X80管線鋼真空渣化學成分的X射線熒光分析方法,屬于化學分析技術領域。該分析方法包括建立真空渣標樣,并采用本發明設計的固定托盤結合具體X射線熒光儀分析儀器建立標準分析曲線,為彌補該標準分析曲線發生漂移校正的缺陷,本發明還選擇自制熔片樣和拋光樣進行校正及確認。最終保證了待測真空渣各化學成分測量的準確性。
聲明:
“X80管線鋼真空渣化學成分的X射線熒光分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)