一種利用離子阱質量分析器獲得高準確質譜的方法包括:調整該分析器的工作參數,以啟動質量選擇共振射出模式下的反向質量掃描;以及,設定捕獲場以俘獲一個質荷比范圍內的離子,該范圍具有接近所關心離子質荷比的下限。一種確定化學位移的方法包括:調整該分析器的工作參數以啟動正向和反向質量掃描;以及,校準從正向和反向質量掃描獲得的質譜。
聲明:
“利用離子阱質量分析器獲得高準確度質譜的方法和利用離子阱質量分析器確定和 /或減小質量分析中化學位移的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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