本實用新型涉及電子芯片性能檢測的技術領域,具體涉及一種芯片引腳的可靠性實驗測試儀,包括箱體,設置于箱體內的支架、溫度監測裝置、為引腳供電的測電裝置及為引腳施加拉力的施重組件;所述支架上設置有用于夾緊芯片的鎖緊組件,所述箱體的一側設置有箱門,所述箱體側壁的下部設置有熱風的進風管、上部設置有出風管;實現了對引腳在不同溫度、不同拉力作用下的導電穩定性檢測,從而可以判斷引腳的質量,降低芯片的廢品率。
聲明:
“一種芯片引腳的可靠性實驗測試儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)