本發明涉及薄膜物理性能檢測技術領域,尤其涉及一種薄膜熱收縮率的測量方法及測量裝置。該測量方法包括:加熱前,測量薄膜樣品的長度為薄膜初始長度L1;將該薄膜樣品置于加熱設備中加熱;將該薄膜樣品從加熱設備中取出、冷卻,拉伸該薄膜樣品使其處于張緊狀態,記錄此時該薄膜樣品的長度為薄膜變形后長度L2,根據所述薄膜初始長度L1、薄膜變形后長度L2、結合收縮率的計算公式計算出薄膜的熱收縮率。該測量方法用于解決薄膜加熱變形后的長度測量不準確的問題。
聲明:
“一種薄膜熱收縮率的測量方法及測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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