本發明公開了一種光電模塊檢測方法,包括以下步驟:S1、構建光電模塊檢測電路,控制器初始化并與光電模塊檢測電路適配;S2、關閉光電模塊檢測電路的采樣端,啟動控制器,控制器獲得當前光電模塊的檢測參數,對當前的輸入值進行預處理,記為W0;S3、開啟光電模塊檢測電路的采樣端;控制器獲得當前光電模塊的輸入值,對當前的輸入值進行預處理,記為W1。通過采用本發明設計的檢測方法,能夠不需要安裝光纖網卡,直接將光電模塊本身作為測試對象,可以直接對光電模塊進行單體檢測,從而既可以核實光電模塊的出廠信息、基本工作參數、光電模塊自身異常,也可以對光電模塊進行性能檢測,提高了檢測效率。
聲明:
“一種光電模塊檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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