本實用新型公開了一種連續檢測射頻部分中芯片電性能的檢具,龍門架(5)橫梁的底部固設有水平氣缸(12),水平氣缸(12)活塞桿的作用端上固設有連接板(13),真空盤(14)的左側壁上焊接有與其內腔連通的真空管(15),真空盤(14)與真空泵(20)連接;龍門架(5)橫梁的頂部固設有升降氣缸(16)和電性能檢測設備(17),升降氣缸(16)的活塞桿貫穿橫梁設置,且延伸端上固設有升降板(18),電性能檢測設備(17)的兩個接觸頭(19)均固設于升降板(18)上,且兩個接觸頭(19)均貫穿升降板(18)設置。本實用新型的有益效果是:極大提高射頻部分中芯片的檢測效率、極大減輕工人工作強度、操作簡單。
聲明:
“一種連續檢測射頻部分中芯片電性能的檢具” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)