一種熒光粉測試系統,包括XY平面坐標定位機構、被測LED夾具、電學性能檢測組件、積分球組件和光分析判斷模塊;所述XY平面坐標定位機構將被測LED夾具上的被檢測LED送到積分球組件下方,由電學性能檢測組件給被檢測LED通電,使被檢測LED發光,所述積分球組件將被檢測LED所發出的光采集后,輸送給光分析判斷模塊進行分析判斷。本實用新型具有可事先對少量的LED在封光前進行檢測,以確定所配熒光粉是否是合符LED發光要求的熒光粉,從而使盲目生產LED成為過去的優點。
聲明:
“熒光粉測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)