本發明提供一種探針的研磨方法和研磨部件,使得即使隨著探針板的大型化,探針增加,探針的排列區域超出研磨部件范圍,使用該研磨部件,也能確實地研磨探針,并能提高檢測的處理能力。本發明的探針的研磨方法,使用研磨片(10)研磨實施晶片電性能檢測的排列在探針板(20)上的多枚探針(21),利用載置臺(30)使外周緣部具有傾斜面(10A)的研磨片(10)移動,分多次研磨探針區域(21)。
聲明:
“探針的研磨方法和研磨部件” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)