合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 物理檢測技術

> 一種半導體質量檢測裝置及方法

一種半導體質量檢測裝置及方法

739   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 06:25:54
本發明適用于半導體生產相關領域,提供了一種半導體質量檢測裝置及方法,所述裝置包括上料帶、轉移機構、視覺檢測設備和性能檢測機構。上料帶將半導體元器件傳送至轉移機構上,視覺檢測設備對半導體元器件的外觀進行檢測之后,轉移機構繼續將半導體元器件傳送至性能檢測機構所在的位置,性能檢測機構對半導體元器件的通電性能進行檢測,經過兩次質檢,質檢出外觀不合格或者性能不合格的產品,將不合格件和合格件分揀到不同的盛放容器中。該裝置能夠連續自主的對抽檢的樣品進行質檢,質檢效率高,可以在與人工質檢時間相同的情況下質檢更多的樣品,使得抽檢數量與整批產品數量相匹配,達到統計學抽樣調查的基準。
登錄解鎖全文
聲明:
“一種半導體質量檢測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
物理檢測
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX