本公開涉及光學透鏡技術領域,尤其涉及一種超透鏡檢測裝置及系統,該裝置包括移動組件、外觀檢測組件和第一光學性能檢測組件;移動組件包括導軌、樣品臺和位移臺,外觀檢測組件和第一光學性能檢測組件位于導軌一側,樣品臺上設有通孔,并用于承載檢測產品,位移臺與樣品臺連接,并用于驅動樣品臺按設定方向移動;外觀檢測組件包括第一支架,第一支架上位于移動組件的上方設有顯微系統;第一光學性能檢測組件包括第二支架,第二支架上位于移動組件上方設有第一探測器、位于移動組件下方依次設有測試圖卡和第一光源,第一探測器通過檢測產品對測試圖卡進行熱成像。本公開技術方案,一體式完成被檢測產品的外觀和光學性能檢測,檢測全面且效率高。
聲明:
“超透鏡檢測裝置及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)