本發明提供的一種基于電子元件性能數據的檢測方法及系統,涉及數據處理技術領域。在本發明中,基于獲取的性能檢測設備對多個待檢測的電子元件分別進行的多次性能檢測處理得到的多組性能檢測數據進行解析處理,得到每一個電子元件的性能是否存在異常的解析結果;針對每一個電子元件,基于該電子元件對應的解析結果,確定將該電子元件對應的一組性能檢測數據作為訓練樣本的類型;基于獲取到的分別作為正訓練樣本和負訓練樣本的多組性能檢測數據對預先構建的神經網絡模型進行訓練,得到對應的電子元件性能檢測模型。采用以上步驟對性能檢測數據進行處理,可以提高對電子元件的性能是否存在異常的檢測精度。
聲明:
“一種基于電子元件性能數據的檢測方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)