一種智能卡掰開檢測機構,包括限位裝置、固定臺、頂升裝置、壓持裝置和第一非接檢測機構;所述限位裝置設置于所述固定臺內;所述頂升裝置設于所述限位裝置的下方,用于將所述限位裝置內的智能卡頂升至所述壓持裝置上,使得智能卡沿第一方向折彎;所述壓持裝置設于所述限位裝置上方,用于壓持所述智能卡沿所述第一方向折彎;所述第一非接檢測機構用于在所述頂升裝置和所述壓持裝置使得智能卡沿所述第一方向折彎的同時檢測智能卡的內置天線的通導。不僅可以測試智能卡在不同形變狀態下的導通狀況,還可以簡化檢測流程,提高檢測效率。同時檢測多個項目時,操作方便,效率較高。
聲明:
“一種智能卡掰開檢測機構及智能卡性能檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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