本發明涉及光通信技術領域,具體為涉及一種光器件的性能檢測系統及測試方法。其特征在于:包括了光模塊1、一入多出的光開關2、多入一出的光開關3、功率探測模塊4、微控單元MCU5、串口6、模擬電壓采集電路7、PC上位機8、光模塊控制電路9、一入多出邏輯門控制電路10、多入一出邏輯門控制電路11。本發明通過集成了光源功能,光功率計功能以及光路切換功能,使其可以通過上位機直接控制與讀取光源,光功率,光通道,因而待測器件只需要連接一次,提升了效率并降低了測試誤差,能一次性的測量出光器件的插入損耗、波長一致性以及通道相關損耗,縮短測試時間。
聲明:
“一種光器件的性能檢測系統及其測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)