本實用新型公開了一種電子產品外殼的性能檢測裝置,包括底座,底座上固定有轉軸,轉軸穿過第一樣品盤、第二樣品盤,第一樣品盤位于底座上方并與底座連接,第二樣品盤位于第一樣品盤上方并與轉軸固定,所述第一樣品盤上以轉軸為圓心設置至少三個環形槽,所述環形槽內放置有標樣,所述標樣向上與放置于第二樣品盤底部的待測樣接觸,第二樣品盤底部的兩端設置有固定片。本實用新型結構簡單、成本低并且能夠快速合理的判斷出待測物的抗劃性能是否達標。
聲明:
“一種電子產品外殼的性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)