本申請提供一種寬溫域二維伸展流變儀、高分子薄膜性能檢測裝置,所述寬溫域二維伸展流變儀通過氣體進行吹膜,實現對高分子薄膜的二維均勻拉伸,且能夠控制變溫速率降到所需低溫,或者升到所需高溫,模擬高低溫苛刻環境下高分子薄膜結構演化,探索高分子材料在寬溫域下的使用性能。并且,設置有入光窗口和出光窗口,能夠與同步輻射X射線散射線站聯用,實現原位研究高分子薄膜拉伸過程中結構演化行為與高低溫苛刻條件下使用性能的關系。
聲明:
“寬溫域二維伸展流變儀、高分子薄膜性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)