本發明公開了一種電源管理芯片電控性能檢測裝置,包括底座,底座內設置有用于收集芯片的收納機構,底座上側設置有檢測箱,檢測箱內設置有用于檢測芯片電控性能的檢測機構;本發明通過轉動的皮帶帶動芯片由上至下運動,當芯片向下運動至引腳與供電觸點以及三個導電塊接觸時,則芯片引腳向導電塊輸出電壓,使得主動觸點與從動觸點抵接,若芯片正常工作,引腳使得三個主動觸點均與從動觸點抵接,則第一電磁鐵才會得電,以此使得右側的收納腔向左運動至芯片腔下側,從而收集正常工作的芯片,若芯片無法正常工作,則反之,使得左側的收納腔收集無法正常工作的芯片,從而實現了芯片大批量快速檢測,極大的提高了芯片檢測效率。
聲明:
“一種電源管理芯片電控性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)